[发明专利]一种单晶硅传感器芯片的加工方法在审
申请号: | 202011161511.3 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112259447A | 公开(公告)日: | 2021-01-22 |
发明(设计)人: | 马群堂 | 申请(专利权)人: | 南京欧拓自动化系统设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 211153 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种单晶硅传感器芯片的加工方法,该单晶硅传感器芯片的加工方法包括以下步骤:晶圆处理工序,取适量的研磨粒,并且勾兑一定的水分,形成研磨液,利用研磨液对晶圆进行双面研磨之后,清洗并氧化晶圆的表面,除去晶圆表面的研磨残留物,使得晶圆的表面进行钝化,降低晶圆表面的活性;取框架单元,该框架单元具有带、环状的框架以及该被加工物;根据第一参数规范和测试条件得到第一测试结果;本发明单晶硅传感器芯片的加工方法,采用湿法腐蚀对晶片表面进行处理,其是通过化学蚀刻液和被刻蚀物质之间的化学反应将被刻蚀物质剥离下来的刻蚀方法,选择性高、均匀性好、对晶片损伤少,具有优异的使用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 单晶硅 传感器 芯片 加工 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造