[发明专利]一种光刻图形的仿真方法及仿真系统有效

专利信息
申请号: 202011135351.5 申请日: 2020-10-22
公开(公告)号: CN112162469B 公开(公告)日: 2021-06-08
发明(设计)人: 王康;罗招龙;赵广;魏来 申请(专利权)人: 南京晶驱集成电路有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 林凡燕
地址: 210000 江苏省南京市栖霞区迈*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出一种光刻图形的仿真方法及仿真系统,包括:预设一基板厚度参数,光阻层厚度参数及掩膜版;根据所述基板厚度参数,所述光阻层厚度参数及所述掩膜版,模拟入射光照射在光阻层上,所述入射光经过所述基板反射后形成反射光,所述反射光和所述入射光形成驻波;调整预设参数,以调整所述驻波的波峰和波谷的位置;模拟显影处理,以获得所述光刻图形;判断所述驻波的波峰是否位于所述光刻图形的底部和/或判断所述基板的反射率是否小于阈值;若是,则将调整后的所述预设参数用于实验中;若否,则再次调整所述预设参数。本发明提出的光刻图形的仿真方法可以模拟光刻图形的制造过程,解决光刻图形不稳定的问题。
搜索关键词: 一种 光刻 图形 仿真 方法 系统
【主权项】:
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