[发明专利]X射线测定装置以及系统在审
| 申请号： | 202011029075.4 | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN112611771A | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 今野翔太;畑山雄二;佐佐木珉贞 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王晖 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供X射线测定装置以及系统，不转移视线或使身体移动去确认，仅用作业现场中的视觉信息就能认识应交换的部件或交换了的部件的适合与否。X射线测定装置(X射线衍射装置2)通过多个部件来构成X射线分析的测定系统，具备：装置主体；直接或间接安装于装置主体、能对应于测定类别从多种类中选择应安装的种类的对象部件(选择狭缝41)以及不能选择种类的非对象部件；和针对测定类别显示所安装的对象部件的适合与否的显示部(选择狭缝用显示部41a)。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 测定 装置 以及 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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