[发明专利]插损测量设备及方法在审
| 申请号： | 202010983516.8 | 申请日： | 2020-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN114199518A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 耿佳宁;李盛 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/04 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施方式涉及通信技术领域，公开了一种插损测量设备，包括：控制器、发射模块、接收模块和环回模块，发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上；控制器用于控制发射模块向光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；环回模块用于将经过光交叉连接设备传输后的第一检测光返回至接收模块；接收模块用于检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；控制器还用于根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。本发明实施方式还公开了一种插损测量方法。本发明实施方式提供的插损测量设备及方法，可以提高光交叉矩阵设备插损测量的重复使用性，正常业务中也能对光交叉矩阵设备插损进行实时测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 设备 方法 | ||
【主权项】：
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