[发明专利]插损测量设备及方法

说明书

本发明实施方式涉及通信技术领域，公开了一种插损测量设备，包括：控制器、发射模块、接收模块和环回模块，发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上；控制器用于控制发射模块向光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；环回模块用于将经过光交叉连接设备传输后的第一检测光返回至接收模块；接收模块用于检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；控制器还用于根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。本发明实施方式还公开了一种插损测量方法。本发明实施方式提供的插损测量设备及方法，可以提高光交叉矩阵设备插损测量的重复使用性，正常业务中也能对光交叉矩阵设备插损进行实时测量。

技术领域

本发明实施方式涉及通信技术领域，特别涉及一种插损测量设备及方法。

背景技术

光交叉连接(optical cross-connect，OXC)设备是用于光纤网络节点的设备，通过对光信号进行线路交叉，能够灵活有效地管理光传输网络，是实现可靠的网络保护、恢复以及自动配线和监控的重要手段。

在现阶段，光交叉连接设备大都是采用光交叉矩阵的方式进行连接，由于光交叉矩阵侧的光纤很容易脏或接触不良，而且在光交叉矩阵侧很难检测出问题，因此目前均是通过外接的检测设备检测每段光纤的插损来判断光交叉矩阵设备中的光纤问题，其中，插损是指插入损失，是由于器件插入传输线或光纤而导致的信号功率损失。

由于光交叉矩阵设备的插损会随着使用或运输而发生变化，因此需要经常对光交叉矩阵设备的插损进行测量。然而光交叉矩阵设备中需要测量的端口较多，若采用外接的检测设备测量光交叉矩阵设备的插损，则每次均需要重新进行与光交叉矩阵设备中的光纤的连接，重复使用性差；且当光交叉矩阵设备投入使用后，无法采用外接的检测设备对光交叉矩阵设备的插损进行实时的测量。

发明内容

本发明的实施方式的目的在于提供一种插损测量设备及方法，可以提高光交叉矩阵设备插损测量的重复使用性，实现对光交叉矩阵设备插损的实时测量。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种插损测量设备，包括：控制器、发射模块、接收模块和环回模块，发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上；控制器用于控制发射模块向光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；环回模块用于将经过光交叉连接设备传输后的第一检测光返回至接收模块；接收模块用于检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；控制器还用于根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。

本发明的实施方式还提供了一种插损测量方法，应用于插损测量设备，插损测量设备包括控制器、发射模块、接收模块和环回模块，发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上，方法包括：利用控制器控制发射模块向光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；利用环回模块将经过光交叉连接设备传输后的第一检测光返回至接收模块；利用接收模块检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。

本发明实施方式相对于现有技术而言，通过将发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上，根据检测光的发射功率和接收功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。由于插损测量设备集成在光交叉连接设备上，因此不需要每次测量重新进行与光交叉连接设备的光纤连接，提高了光交叉连接设备插损测量的重复使用性；同时，由于测量设备集成在光交叉连接设备上，因此可以随时进行对光交叉连接设备的测量，不会影响到正常业务，即使光交叉连接设备投入使用后，亦能实现对光交叉连接设备的插损的实时测量。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定。

图1为本发明第一实施方式提供的插损测量设备的结构示意图；

图2为本发明第二实施方式提供的插损测量设备进行自环插损测量的示例图；