[发明专利]插损测量设备及方法

权利要求书

1.一种插损测量设备，其特征在于，包括：控制器、发射模块、接收模块和环回模块，所述发射模块、所述接收模块和所述环回模块集成在光交叉连接设备上；

所述控制器用于控制所述发射模块向所述光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；

所述环回模块用于将经过所述光交叉连接设备传输后的所述第一检测光返回至所述接收模块；

所述接收模块用于检测所述返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；

所述控制器还用于根据所述第一功率和所述第二功率确定所述光交叉连接设备的插损测量结果。

2.根据权利要求1所述的插损测量设备，其特征在于，所述环回模块还用于判断所述第一检测光的波长是否可用，并将所述第一检测光的波长是否可用的信息返回至所述控制器；

所述控制器还用于当所述第一检测光的波长不可用时，控制所述发射模块调整波长后向所述光交叉连接设备发送功率为所述第一功率的第二检测光。

3.根据权利要求1所述的插损测量设备，其特征在于，所述控制器还用于判断所述第二功率是否在预设范围内，若所述第二功率不在预设范围内，则控制所述发射模块向所述光交叉连接设备发送功率为第三功率的第三检测光，其中，所述预设范围由所述接收模块的检测精度确定，所述第三功率由所述第一功率根据预设步长调整得到。

4.根据权利要求1所述的插损测量设备，其特征在于，所述光交叉连接设备为光交叉矩阵设备，所述光交叉矩阵设备包括N个槽位，所述发射模块、所述接收模块和所述环回模块通过至少一个槽位与所述光交叉矩阵设备连接，所述N为大于1的正整数。

5.根据权利要求4所述的插损测量设备，其特征在于，所述控制器用于控制所述发射模块向所述光交叉矩阵设备的第K个槽位发送所述第一检测光，所述K为正整数且小于或等于N；

所述环回模块还用于在所述第K个槽位将所述第一检测光返回至所述接收模块；

所述控制器还用于根据所述第一功率和所述第二功率确定所述第K个槽位的自环插损测量结果。

6.根据权利要求4所述的插损测量设备，其特征在于，所述环回模块至少包括第一环回单元和第二环回单元，所述第一环回单元与所述第K个槽位连接，所述第二环回单元与所述第J个槽位连接，所述K和所述J为正整数且小于或等于N；

所述控制器用于控制所述发射模块向所述第K个槽位发送所述第一检测光；

所述第一环回单元用于将所述第一检测光从所述第K个槽位发送至所述第J个槽位；

所述第二环回单元用于将所述第一检测光返回至所述接收模块；

所述控制器还用于根据所述第一功率和所述第二功率确定所述第K个槽位与所述第J个槽位之间的板间插损测量结果。

7.一种插损测量方法，其特征在于，应用于插损测量设备，所述插损测量设备包括控制器、发射模块、接收模块和环回模块，所述发射模块、所述接收模块和所述环回模块集成在光交叉连接设备上，所述方法包括：

利用所述控制器控制所述发射模块向所述光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；

利用所述环回模块将经过所述光交叉连接设备传输后的所述第一检测光返回至所述接收模块；

利用所述接收模块检测所述返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；

根据所述第一功率和所述第二功率确定所述光交叉连接设备的插损测量结果。

8.根据权利要求7所述的插损测量方法，其特征在于，在所述利用所述控制器控制所述发射模块向所述光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光之后，还包括：

利用所述环回模块判断所述第一检测光的波长是否可用；

若所述第一检测光的波长不可用，则利用所述控制器控制所述发射模块调整波长后向所述光交叉连接设备发送功率为所述第一功率的第二检测光。