[发明专利]显示面板缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质有效
| 申请号： | 202010854330.2 | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN111815628B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 陈春煦;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06K9/62 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种显示面板缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括：将待检测面板图像输入面板缺陷分割模型，以供所述面板缺陷分割模型对所述待检测面板图像进行卷积处理，并对卷积结果进行不同次数的下采样，得到若干下采样结果，对每个下采样结果经过密集连接生成的数据进行特征融合，得到并输出面板缺陷分割结果，所述待检测面板图像的像素大小为K*K；显示所述面板缺陷分割结果。通过本发明，对每个下采样结果经过密集连接后生成数据，可减少浅层特征在网络加深过程中的信息丢失，然后将每个下采样结果经过密集连接后生成的数据进行特征融合，实现了在不影响普通目标分割效果的同时显著改善屏幕缺陷分割效果。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 面板 缺陷 检测 方法 装置 设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司，未经武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010854330.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
