[发明专利]一种外延薄膜晶圆级剥离方法及其装置有效
申请号: | 202010815225.8 | 申请日: | 2020-08-13 |
公开(公告)号: | CN112018033B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 王幸福;董建奇;姜健 | 申请(专利权)人: | 华南师范大学 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78;H01L21/67;H01L29/20;H01L29/205;H01S3/16;H01S5/30;H01S5/323;H01S5/343 |
代理公司: | 佛山粤进知识产权代理事务所(普通合伙) 44463 | 代理人: | 王余钱 |
地址: | 510000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及外延薄膜晶圆级剥离方法及其装置,其包括使用外延方法外延生长未掺杂氮化镓层、重掺杂氮化镓牺牲层和目标层,结合特定方式的电化学剥离方法实现了晶圆级外延薄膜的完整剥离,并且脱离后的外延衬底能够循环使用,有效地降低氮化物的生长成本,实现绿色外延。使用该电化学剥离的方式,将外延薄膜完整剥离并能够转移至目标衬底上,既可实现Si基集成电路、柔性器件等的制备,又可以释放其生长过程中产生的固有内应力,提高器件整体的性能与用途。本发明的剥离方法操作简单,具有较高的可重复性,制备成本低,在氮化物光电器件的研制方面有着广泛的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 外延 薄膜 晶圆级 剥离 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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