[发明专利]一种利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法在审
| 申请号： | 202010650608.4 | 申请日： | 2020-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN111781218A | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 李光来;尹晓燕;宋炎;刘小波;苏晔;龙伟康 | 申请（专利权）人： | 东华理工大学 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00;G01N21/84 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 周敏 |
| 地址： | 330013 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，步骤包括将矿石制备成探针片；去除相机胶片表面的薄膜；将相机胶片覆盖在探针片上，然后进行辐照；取下相机胶片，然后用蚀刻溶液进行蚀刻，再进行清洗；在光学显微镜下寻找相机胶片上的蚀刻密集点并进行标记；在探针片的相应位置上进行标记，然后利用探测仪器对所述探针片上的标记处的矿物成分进行分析以确认矿物种类。该方法可以快速、高效地寻找和定位矿石中含放射性元素的矿物。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 径迹 蚀刻 定位 矿石 矿物 方法 | ||
【主权项】：
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