[发明专利]一种利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法

权利要求书

1.一种利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：包括如下步骤：

(1)将矿石制备成探针片；

(2)去除相机胶片表面的薄膜；

(3)将步骤(2)处理后的相机胶片覆盖在步骤(1)制得的探针片上，然后进行辐照；

(4)将步骤(3)辐照后的相机胶片自所述的探针片上取下，然后用蚀刻溶液进行蚀刻，再进行清洗；

(5)将步骤(4)清洗后的相机胶片在光学显微镜下寻找蚀刻密集点并进行标记；

(6)根据步骤(5)标记后的相机胶片上的蚀刻密集点在所述的探针片的相应位置上进行标记，然后利用探测仪器对所述探针片上的标记处的矿物成分进行分析以确认矿物种类。

2.根据权利要求1所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：所述的矿物为铀的氧化物的质量含量≤1％的矿物、或钍的氧化物的质量含量≤1％的矿物、或铀的氧化物和钍的氧化物的总质量含量≤1％的矿物。

3.根据权利要求1所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：所述的矿物的结晶粒度为2～100μm。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：所述的矿物为富钨矿物和/或含稀有稀土金属矿物。

5.根据权利要求1所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：控制步骤(3)的辐照时间为25～30天。

6.根据权利要求1所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：步骤(4)中采用的蚀刻溶液包括5～15wt％的KOH、10～20wt％的NaOH、2～5wt％的KMnO₄以及70～80wt％的水。

7.根据权利要求6所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：步骤(4)中采用的蚀刻溶液包括6～9wt％的KOH、12～16wt％的NaOH、3～4.5wt％的KMnO₄以及72～78wt％的水。

8.根据权利要求1所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：步骤(4)中，进行所述的蚀刻的温度为60～65℃，蚀刻时间为50～70min。

9.根据权利要求1所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：所述的探测仪器包括探针、扫描电镜中的一种或多种。

10.根据权利要求1所述的利用α径迹蚀刻定位矿石中矿物的方法，其特征在于：步骤(6)中进行定性分析的方法包括对所述的探针片的标记处进行喷碳或喷金后，利用扫描电镜对标记处的矿物开展能谱分析，筛选出所述矿物并标记，同时采集所述矿物的背散射电子图像。