[发明专利]一种超视距雷达的电离层相位污染校正方法有效

专利信息
申请号: 202010640221.0 申请日: 2020-07-06
公开(公告)号: CN112130138B 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 严济鸿;杨文杰;王玮;唐德义;余万玉;何子述 申请(专利权)人: 电子科技大学;中国电子科技集团公司第五十四研究所
主分类号: G01S13/88 分类号: G01S13/88;G01S7/41;G01S7/40;G01S7/35;G01S7/292;G01S7/285
代理公司: 电子科技大学专利中心 51203 代理人: 邹裕蓉
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明针对天波超视距雷达的电离层污染问题,提出一种超视距雷达的电离层相位污染校正方法,包括步骤:Step1:从雷达回波信号中提取得到一个距离单元的回波数据;再通过对回波数据的处理估计得到杂波信号;Step2:利用杂波信号估计出电离层污染信号的瞬时频率;所述电离层污染信号为杂波信号与目标回波信号经电离层污染后的信号;Step3:将估计出来的电离层污染信号的瞬时频率与海杂波Bragg峰的瞬时频率相减,就可以得到污染相位的瞬时频率,再对其进行积分得到相位污染函数;Step4:利用相位污染函数对回波数据做补偿实现相位污染校正。本发明能在电离层相位污染快变时获得较好的解污染性能。
搜索关键词: 一种 视距 雷达 电离层 相位 污染 校正 方法
【主权项】:
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