[发明专利]替换金属栅极器件结构及其制造方法在审
申请号: | 202010620909.2 | 申请日: | 2020-07-01 |
公开(公告)号: | CN113421926A | 公开(公告)日: | 2021-09-21 |
发明(设计)人: | 徐民翰;曹荣志 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司;台积电(南京)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/49;H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 朱亦林 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本公开涉及替换金属栅极器件结构及其制造方法。半导体器件包括半导体鳍和在半导体鳍上方的栅极堆叠。栅极堆叠包括在半导体鳍的沟道区域上方的栅极电介质层,在栅极电介质层上方的功函数材料层,其中功函数材料层包括掺杂剂,以及在功函数材料层上方的栅极电极层。栅极电介质层不含掺杂剂。 | ||
搜索关键词: | 替换 金属 栅极 器件 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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