[发明专利]一种IGBT器件结构及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202010594014.6 申请日: 2020-06-28
公开(公告)号: CN111755508A 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 程炜涛;程庆彪;潘克学 申请(专利权)人: 程庆彪
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L21/331;H01L29/06;H01L29/423
代理公司: 浙江千克知识产权代理有限公司 33246 代理人: 汪丹琪
地址: 100089*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种IGBT器件结构及其制造方法,属于半导体技术领域。结构包括具有第一导电类型的衬底,第二导电类型体区,三个沟槽,第一导电类型源区,第二导电类型区域,发射极金属层;第一、第三沟槽对称设于第二沟槽的两侧,且沟槽设于第二导电类型体区内;第一、第三沟槽内设有控制栅多晶硅,第二沟槽内设有屏蔽栅多晶硅;多晶硅与沟槽之间设有沟槽绝缘层;沟槽两侧均设有第一导电类型源区;第二导电类型体区与第一导电类型源区构成导电沟道;第二导电类型区域与第一导电类型源区接触;发射极金属层分别与第二导电类型区域、第一导电类型源区、屏蔽栅多晶硅欧姆连接;控制栅多晶硅与发射极金属层绝缘隔离。本发明有效降低栅极电容,降低器件的动态关断损耗。
搜索关键词: 一种 igbt 器件 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
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