[发明专利]半导体器件、电容装置及电容装置的制造方法在审
申请号: | 202010565258.1 | 申请日: | 2020-06-19 |
公开(公告)号: | CN113823630A | 公开(公告)日: | 2021-12-21 |
发明(设计)人: | 徐正弘 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/108 | 分类号: | H01L27/108;H01L49/02 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 王辉;阚梓瑄 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本公开提供一种半导体器件、电容装置及电容装置的制造方法,涉及半导体技术领域。该制造方法包括:在一衬底上形成多个呈阵列分布的存储节点接触塞及分隔各存储节点接触塞的绝缘层;在绝缘层背离衬底的一侧形成电极支撑结构,电极支撑结构具有分别露出各存储节点接触塞的多个通孔,通孔包括多个依次对接的孔段,各孔段中靠近衬底一侧的孔段的孔径大于远离衬底一侧的孔段的孔径;在各通孔中形成第一电极层,第一电极层与存储节点接触塞接触连接;在第一电极层和电极支撑结构共同构成的结构的外表面和内表面形成介质层;在介质层的外表面形成第二电极层。本公开的电容装置的制造方法可避免短路,提高电容量。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 电容 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的