[发明专利]非挥发性存储器读数据速度测试电路和测试方法有效
| 申请号： | 202010465009.5 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN111696617B | 公开（公告）日： | 2023-10-20 |
| 发明（设计）人： | 徐佳斌;赵锋;周喆;高璐 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及半导体集成电路设计和测试技术领域，具体涉及一种非挥发性存储器读数据速度测试电路和测试方法。其中，测试电路包括读信号路径，其输出端连接非挥发性存储器的读取端；读信号路径能够根据测试时钟信号，输出读信号给读信号输入端；地址路径，其包括用于输出经过时序平衡的地址信号的第一地址单元和时序平衡选择器，时序平衡选择器用于选择并输出第一地址单元的输出信号；比对输出路径，其比对端连接非挥发性存储器的输出端，用于将非挥发性存储器输出端的输出数据与预设的比对数据进行比对，并输出比对结果，可以解决相关技术中非挥发性存储器读取数据的时间TAA的测算出现偏差的问题，能够提高TAA测试的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 挥发性 存储器 读数 速度 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
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