[发明专利]一种利用相位测量偏折术的光学透镜波前测量方法在审
| 申请号： | 202010460674.5 | 申请日： | 2020-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN111537203A | 公开（公告）日： | 2020-08-14 |
| 发明（设计）人： | 王维;岳慧敏;覃添;刘永 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J9/00 |
| 代理公司： | 合肥方舟知识产权代理事务所(普通合伙) 34158 | 代理人： | 刘跃 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用相位测量偏折术的光学透镜波前测量方法，包括搭建相位测量偏折术透射系统，在光路上依次设置CCD相机、准直透镜、待测光学透镜、LCD显示屏以及采集控制计算机，引入准直透镜对条纹光进行准直，减小因光发散而引起的结构光畸变；待测透镜因为具有位相调制作用，将对条纹成像使其为变形条纹，利用四步相移算法或傅里叶变换来解算条纹的包裹相位，利用光线逆追迹的方法推导并提取梯度，利用区域波前重构算法对波前斜率进行积分可以重建得到波前分布的特点。本发明提出一种简单结构的方法，适用于各类相位物体波前检测，不仅可以得到相位物体的相位分布，也可以获得波前分布，具有快速，易操作的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 相位 测量 偏折术 光学 透镜 测量方法 | ||
【主权项】：
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