[发明专利]半导体存储装置有效
| 申请号： | 202010385612.2 | 申请日： | 2020-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN111933210B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 须藤直昭 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 赵平;周永君 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明的半导体存储装置，包含：低电力电压检测电路，检测供给电压下降到一定电压；高精度电压检测电路，检测供给电压下降到一定电压；以及控制器，当内部电路为测试状态时，选择高精度电压检测电路，当内部电路不为测试状态时，选择低电力电压检测电路，响应低电力电压检测电路或高精度电压检测电路的检测结果，执行电源切断运作。本发明可以提供能够减低消耗电力，同时当测试运作时，正确执行电源切断运作的半导体存储装置。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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