[发明专利]存储设备在审
申请号: | 202010263534.9 | 申请日: | 2020-04-07 |
公开(公告)号: | CN111833954A | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 郑尚勋 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11C29/30 | 分类号: | G11C29/30;G11C7/12;G11C7/18;G11C8/08;G11C8/14 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 李娜;王凯霞 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请提供一种存储设备。所述存储设备包括:包括多个单元的单元阵列;地址转变检测器,其输出关于写入命令的地址是否改变的转变检测信号;以及控制逻辑电路,其响应于所述写入命令生成多个字线接通信号中的一个字线接通信号用于对所述单元阵列执行写入操作,并根据所述转变检测信号终止所述写入操作。所述字线接通信号包括:在所述地址改变之前保持激活的长时间保持的字线接通信号、以及在所述地址改变之前被分割成多个子字线接通信号的分割字线接通信号。 | ||
搜索关键词: | 存储 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010263534.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:显示装置
- 下一篇:信息处理程序、信息处理方法以及信息处理装置
- 同类专利
- 存储设备-202010263534.9
- 郑尚勋 - 三星电子株式会社
- 2020-04-07 - 2020-10-27 - G11C29/30
- 本申请提供一种存储设备。所述存储设备包括:包括多个单元的单元阵列;地址转变检测器,其输出关于写入命令的地址是否改变的转变检测信号;以及控制逻辑电路,其响应于所述写入命令生成多个字线接通信号中的一个字线接通信号用于对所述单元阵列执行写入操作,并根据所述转变检测信号终止所述写入操作。所述字线接通信号包括:在所述地址改变之前保持激活的长时间保持的字线接通信号、以及在所述地址改变之前被分割成多个子字线接通信号的分割字线接通信号。
- 一种相变存储裸阵列的选址系统-201610470708.2
- 程晓敏;李佳灿;丁格格;刘畅;童浩;缪向水 - 华中科技大学
- 2016-06-23 - 2019-08-30 - G11C29/30
- 本发明公开了一种相变存储裸阵列的选址系统,用于在对相变存储阵列进行性能测试时提供选址控制;包括行选择电路、行控制电路、列选择电路和列控制电路;行控制电路的一端与所述行选择电路连接,行控制电路的另一端用于与相变存储阵列连接;列控制电路的一端与列选择电路连接,列控制电路的另一端用于与相变存储阵列连接;工作时,行选择电路和列选择电路均与半导体特性分析仪连接,半导体特性分析仪用于提供相变存储阵列测试所需的测试信号和激励信号;通过行选择电路和列选择电路实现多路复用高速模拟通道的选通,通过二进制地址码选择所述相变存储阵列的行地址和列地址。
- 生成半导体器件所用测试电路的方法和装置-200710097338.3
- 西川亮太 - 松下电器产业株式会社
- 2007-05-11 - 2007-11-28 - G11C29/30
- 测试电路生成方法包括以下步骤:第一步骤,用于获得包含所述存储器结构信息的存储器信息;第二步骤,用于获得故障判断比特信息,所述故障判断比特信息从所述存储器的所有输出比特中指定作为故障判断目标的判断目标比特;和第三步骤,用于参照所述存储器信息生成故障判断控制电路,所述故障判断控制电路通过仅仅使用在所述故障判断比特信息中指定的所述故障判断目标比特对所述存储器进行故障判断。
- 专利分类