[发明专利]一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法有效
| 申请号： | 202010196359.6 | 申请日： | 2020-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN111415696B | 公开（公告）日： | 2021-11-23 |
| 发明（设计）人： | 孙杰杰;于跃;赵桂林;杨霄垒;曹靓 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙) 32340 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法，属于CMOS集成电路技术领域。通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验，剔除校验失败的芯片；再次对一次可编程存储器芯片进行空片检查，剔除检查失败的芯片；对一次可编程存储器芯片进行动态老炼，诱导有潜在缺陷的芯片发生早期失效；进行全片读取校验，剔除发生错误的芯片。本发明提供的方法可以有效剔除有工艺缺陷或参数不达标的芯片，具有很高的应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 一次 可编程 存储器 芯片 进行 筛选 方法 | ||
【主权项】：
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