[发明专利]存储器的测试方法及相关设备在审
| 申请号： | 202010166643.9 | 申请日： | 2020-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN113393888A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 章恒嘉;史传奇;丁丽 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;孙宝海 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开实施例提供一种存储器的测试方法及装置、电子设备和计算机可读存储介质，涉及半导体器件测试技术领域。该方法由内建自测电路执行，该方法包括：测试第一存储器，获取第一存储器的缺陷信息；根据所述第一存储器的缺陷信息，获得所述第一存储器的修复信息；将所述第一存储器的修复信息存储于第二存储器中。本公开实施例提供的技术方案，可以利用其他存储器来存储当前被测试的存储器的修复信息，从而可以扩大存储空间，提高测试效率，同时利用内建自测电路来实施存储器的测试过程，可以减轻对自动测试设备的依赖程度，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 相关 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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