[发明专利]检测装置、检测准分子激光器放电腔部件钝化程度的方法有效

专利信息
申请号: 202010113630.5 申请日: 2020-02-24
公开(公告)号: CN111307924B 公开(公告)日: 2023-05-12
发明(设计)人: 郭馨;江锐;王倩;周翊;赵江山;王宇 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京知迪知识产权代理有限公司 11628 代理人: 王胜利
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种检测装置、检测准分子激光器的放电腔部件钝化程度的方法,涉及光电技术领域,可判断放电腔部件内的钝化层是否钝化完成。一种检测装置,用于检测准分子激光器的放电腔部件的钝化程度,包括准分子激光器、测试腔、试样槽、钝化气瓶、质谱仪;准分子激光器包括放电腔部件;试样槽位于测试腔内;钝化气瓶和质谱仪分别与测试腔连接;试样槽,用于盛放从所述放电腔部件取样的钝化样品;钝化气瓶,用于向测试腔输入钝化气体,得到钝化层;质谱仪,用于检测测试腔内的有害气体的含量,并判断钝化是否完成。
搜索关键词: 检测 装置 准分子激光 放电 部件 钝化 程度 方法
【主权项】:
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