[发明专利]用于测量负载的阻抗的装置在审

专利信息
申请号: 202010079361.5 申请日: 2020-02-03
公开(公告)号: CN111505383A 公开(公告)日: 2020-08-07
发明(设计)人: 佩特里·J·真希-奥托;劳里·尤哈尼·萨尔米亚;阿波·阿普罗 申请(专利权)人: 英格索兰工业美国公司
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 潘军
地址: 美国北*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及用于测量负载的阻抗的装置,特别是用于测量被配置为耦合至受控电流源的电负载的阻抗的装置。装置包括被配置为耦合至负载的第一端子的第一耦合节点和被配置为耦合至负载的第二端子的第二耦合节点。该装置还包括具有初级绕组和次级绕组的变压器以及串联连接在次级绕组的第一端子和第一耦合节点之间的电容。次级绕组的第二端子连接到第二耦合节点。该装置还包括处理单元,该处理单元被配置为:控制施加到初级绕组的激励信号,以便引起负载(300)的输入电流的与激励信号相对应的变化;测量负载(300)的输入电流和输入电压;并基于所测量的输入电流和输入电压,确定负载(300)的阻抗。
搜索关键词: 用于 测量 负载 阻抗 装置
【主权项】:
暂无信息
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