[发明专利]容许值设定系统、基板检查机、容许值设定方法、基板检查方法有效
| 申请号： | 201980096869.1 | 申请日： | 2019-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN113940152B | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 横井勇太;稻垣光孝;小谷一也;小野惠市 | 申请（专利权）人： | 株式会社富士 |
| 主分类号： | H05K13/08 | 分类号： | H05K13/08 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 杨青;安翔 |
| 地址： | 日本爱知*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的课题在于提供能够设定适当的检查容许值的容许值设定系统(2)、基板检查机(33)、容许值设定方法、基板检查方法。将电子元件(91)相对于基板(9)的元件搭载面的标准的搭载位置设为标准位置(A)。将电子元件(91)的实际的搭载位置相对于标准位置(A)的、元件搭载面的面方向上的偏差设为面方向偏差(BX、BY)。将电子元件(91)的实际的搭载位置相对于标准位置(A)的、元件搭载面内的旋转方向上的偏差设为角度偏差(Bθ)。容许值设定系统(2)根据角度偏差(Bθ)，设定多个在回流焊前的基板检查中评价面方向偏差(BX、BY)的面方向检查容许值(CX、CY)。 | ||
| 搜索关键词： | 容许 设定 系统 检查 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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