[发明专利]容许值设定系统、基板检查机、容许值设定方法、基板检查方法有效
| 申请号： | 201980096869.1 | 申请日： | 2019-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN113940152B | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 横井勇太;稻垣光孝;小谷一也;小野惠市 | 申请（专利权）人： | 株式会社富士 |
| 主分类号： | H05K13/08 | 分类号： | H05K13/08 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 杨青;安翔 |
| 地址： | 日本爱知*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 容许 设定 系统 检查 方法 | ||
1.一种容许值设定系统，
将电子元件相对于基板的元件搭载面的标准的搭载位置设为标准位置，
将所述电子元件的实际的所述搭载位置相对于所述标准位置的、所述元件搭载面的面方向上的偏差设为面方向偏差，
将所述电子元件的实际的所述搭载位置相对于所述标准位置的、所述元件搭载面内的旋转方向上的偏差设为角度偏差，
根据所述角度偏差，设定多个在回流焊前的基板检查中评价所述面方向偏差的面方向检查容许值，
所述角度偏差越大，则所述面方向检查容许值越小。
2.根据权利要求1所述的容许值设定系统，其中，
所述电子元件以焊料相对于所述基板的所述元件搭载面的印刷位置为基准而搭载于所述基板。
3.一种基板检查机，
取得搭载于回流焊前的所述基板的所述电子元件的所述面方向偏差和所述角度偏差，
比较所取得的所述面方向偏差与由权利要求1或2所述的容许值设定系统设定的多个所述面方向检查容许值，并进行合格与否判定。
4.一种容许值设定方法，
将电子元件相对于基板的元件搭载面的标准的搭载位置设为标准位置，
将所述电子元件的实际的所述搭载位置相对于所述标准位置的、所述元件搭载面的面方向上的偏差设为面方向偏差，
将所述电子元件的实际的所述搭载位置相对于所述标准位置的、所述元件搭载面内的旋转方向上的偏差设为角度偏差，
根据所述角度偏差，设定多个在回流焊前的基板检查中评价所述面方向偏差的面方向检查容许值，且，所述角度偏差越大，则所述面方向检查容许值越小。
5.一种基板检查方法，具有如下的步骤：
偏差取得步骤，取得搭载于回流焊前的所述基板的所述电子元件的所述面方向偏差和所述角度偏差；及
判定步骤，比较所取得的所述面方向偏差与通过权利要求4所述的容许值设定方法设定的多个所述面方向检查容许值，并进行合格与否判定。
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