[发明专利]电磁波测量用探头和电磁波测量系统以及束状光纤在审
| 申请号： | 201980070541.2 | 申请日： | 2019-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN113196068A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 久武信太郎;及川阳一;宫地邦男;东条诚 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人东海国立大学机构;新信心股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京旭知行专利代理事务所(普通合伙) 11432 | 代理人： | 王轶;李伟 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种能够通过差分测定来测量电磁波的空间分布状态的电磁波测量用探头。本发明的电磁波测量用探头具备：具有探头结构的第1测定部、以及具有探头结构的第2测定部，其中，该探头结构包括：发挥电光效应的电光晶体、设置在电光晶体的根基侧且传递光信号的光纤、以及设置在该电光晶体的前端侧且反射所述光信号的反射部，在与所述光纤的轴向垂直的第1方向及第2方向上，所述电光晶体的尺寸设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下，由此能够进行高精度的电磁波的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 电磁波 测量 探头 系统 以及 束状 光纤 | ||
【主权项】：
暂无信息
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