[发明专利]电磁波测量用探头和电磁波测量系统以及束状光纤

说明书

提供一种能够通过差分测定来测量电磁波的空间分布状态的电磁波测量用探头。本发明的电磁波测量用探头具备：具有探头结构的第1测定部、以及具有探头结构的第2测定部，其中，该探头结构包括：发挥电光效应的电光晶体、设置在电光晶体的根基侧且传递光信号的光纤、以及设置在该电光晶体的前端侧且反射所述光信号的反射部，在与所述光纤的轴向垂直的第1方向及第2方向上，所述电光晶体的尺寸设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下，由此能够进行高精度的电磁波的测量。

技术领域

本发明适合于一种例如测定电磁波的空间分布状态的电磁波测量用探头。

背景技术

近年来，伴随着毫米波雷达的普及，以高精度来测定毫米波等作为高频波的电磁波的空间分布状态(1维、2维、3维中的振幅或相位、强度、频率等)的必要性高涨。因此，周知有下述的方法，即，使用所谓的电光晶体来测量电磁波的空间分布状态，电光晶体发挥光与受到电磁波影响的物质相作用而产生的电光效应(例如参照专利文献1)。

另外，还提出有如下所述的方法，即，通过使用2个电光晶体进行的差分测定，而不使用测量对象电磁波的同步信号来对电磁波的空间分布状态进行测定的方法(例如参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2001-343410号公报

专利文献2：日本特开2017-15703号公报

发明内容

为了实现上述结构的差分测定，需要用于测量电磁波的空间分布状态的测量用探头。

本发明就是为了解决这样的问题而完成的，其目的在于提供一种通过差分测定来测量电磁波的空间分布状态的电磁波测量用探头和使用了该电磁波测量用探头的电磁波测量系统、以及束状光纤。

为了解决上述课题，本发明的测量用探头使用于电磁波测量系统，该电磁波测量系统利用具有第1测定部以及第2测定部的测量用探头，来测定响应测量对象电磁波而由电光效应产生的光信号的变化，并基于一边使所述测量用探头移动一边检测到的所述光信号的变化的差分值，来对测量对象电磁波的空间分布状态进行测量，其特征在于，

所述测量用探头具备：具有探头结构的第1测定部、以及具有所述探头结构的第2测定部，其中，该探头结构包括：发挥所述电光效应的电光晶体、设置在该电光晶体的根基侧且传递所述光信号的光纤、以及设置在该电光晶体的前端侧且反射所述光信号的反射部，

在与所述光纤的轴向垂直的第1方向及第2方向上，所述电光晶体的尺寸设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下。

另外，本发明的电磁波测量系统的特征在于，具备测量用探头、差分检测部、以及电磁波状态算出部，所述测量用探头具有：具有探头结构的第1测定部、以及具有所述测量用探头结构的第2测定部，所述探头结构包括发挥电光效应的电光晶体、设置在该电光晶体的根基侧且传递所述光信号的光纤、以及设置在该电光晶体的前端侧的反射部，在与所述光纤的轴向垂直的第1方向及第2方向上，所述电光晶体的尺寸设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下，

所述差分检测部检测：第1测定部与第2测定部间的由所述电光晶体所引起的光信号变化的差分值，

所述电磁波状态算出部基于一边使所述测量用探头移动一边检测到的所述光信号变化的差分值来计算出电磁波的空间分布状态。

本发明的束状光纤的特征在于，具备：纤芯部件，其具有传递光信号的芯部和包层部；以及毛细管，其在将多个所述纤芯部件插通于具有与所述纤芯部件大致相同尺寸的多个孔中的状态下对多个所述纤芯部件进行固定，所述包层部对所述芯部进行被覆且其折射率不同于该芯部。

本发明能够实现：用于通过差分测定来测量电磁波的空间分布状态的电磁波测量用探头和使用了该电磁波测量用探头的电磁波测量系统、以及束状光纤。