[发明专利]电磁波测量用探头和电磁波测量系统以及束状光纤

权利要求书

1.一种测量用探头，其使用于电磁波测量系统，该电磁波测量系统利用具有第1测定部以及第2测定部的测量用探头，来测定响应测量对象电磁波而由电光效应产生的光信号的变化，并基于一边使所述测量用探头与所述测量对象电磁波相对地进行移动一边检测到的所述光信号变化的差分值，来对测量对象电磁波的空间分布状态进行测量，其特征在于，

所述测量用探头具备：具有传感器结构的第1测定部、以及具有所述传感器结构的第2测定部，所述传感器结构包括：发挥所述电光效应的电光晶体、设置在该电光晶体的根基侧且传递所述光信号的光纤、以及设置在该电光晶体的前端侧且反射所述光信号的反射部，

在与所述光纤的轴向垂直的第1方向及第2方向上，所述电光晶体的尺寸设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下。

2.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，

在与所述光纤的轴向垂直的第1方向及第2方向上，所述电光晶体的尺寸设定为所述测量对象电磁波的波长的λ/6以上且λ/3以下。

3.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，

频率不同的2个光信号分别被输入于所述第1测定部以及所述第2测定部中的所述电光晶体。

4.根据权利要求2所述的测量用探头，其特征在于，

在调整成使得从所述2个光信号的频率的差分减去所述测量对象电磁波的频率之后的差分频率恒定的状态下，输入所述2个光信号。

5.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，

在所述第1测定部中光信号发生反射的第1反射点与在所述第2测定部中光信号发生反射的第2反射点之间的距离亦即隔离距离被设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下。

6.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，

所述第1测定部中的反射部与所述第2测定部中的反射部被配置成：错开了反射隔离距离，该反射隔离距离为平行于所述第1光纤以及第2光纤的轴向的第3方向上的隔离距离，被设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下。

7.根据权利要求5所述的测量用探头，其特征在于，

所述反射隔离距离设定为小于所述隔离距离。

8.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，

构成为：中央板、第1板、以及第2板被粘合，所述中央板在第1面形成有供所述第1光纤嵌合用的槽，并在与该第1面相对置的第2面形成有供所述第2光纤嵌合用的槽，所述第1板在与所述中央板中的第1面相对置的面上的相对置的位置形成有槽，所述第2板在与所述中央板中的第2面相对置的面上的相对置的位置形成有槽，

所述第1光纤被夹在所述中央板与所述第1板的槽中，所述第2光纤被夹在所述中央板与所述第2板的槽中。

9.根据权利要求1所述的测量用探头，其特征在于，

所述第1光纤以及所述第2光纤连接于1个电光晶体的根基侧。

10.根据权利要求9所述的测量用探头，其特征在于，

所述第1光纤以及所述第2光纤贯穿于：形成有与该第1光纤以及该第2光纤尺寸大致相同的孔的毛细管。

11.根据权利要求9所述的测量用探头，其特征在于，

所述1个电光晶体具有配置成与前端的反射部错开了反射隔离距离的功能膜，所述反射隔离距离是平行于所述第1光纤以及所述第2光纤的轴向的第3方向上的隔离距离，

该反射隔离距离设定为所述测量对象电磁波的波长的1/2以下，

所述功能膜使传递至所述第1测定部的波长的光信号透过，并对传递至所述第2测定部的波长的光信号进行反射。