[发明专利]缺陷检查装置、缺陷检查方法及其程序在审
| 申请号： | 201980053565.7 | 申请日： | 2019-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN112567229A | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 池田泰之;栗田真嗣 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 日本京都府京都市下京区*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 缺陷检查装置包括：获取部，获取检查对象物的检查图像；图像生成部，通过对检查图像适用以使用学习用的图像数据提取特征的方式进行了事先学习的已学习识别器，而生成一个以上的特征提取图像；检查部，基于用以判定检查对象物中有无检测对象部位的一个以上的判定用参数及以特征提取图像而生成的二值化图像来确定与缺陷对应的区域；以及设定部，在基于已事先学习的特征来确定与缺陷对应的区域的情况下，当与特征对应的学习用的图像数据的数未满阈值时，以来自用户的事后调整为前提而临时设定判定用参数，在基于已事先学习的特征以外的特征来确定与缺陷对应的区域的情况下，根据来自用户的指定来设定判定用参数。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检查 装置 方法 及其 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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