[发明专利]用于测量CVD反应器中的基座的表面温度的装置有效

专利信息
申请号: 201980048259.4 申请日: 2019-06-14
公开(公告)号: CN112513327B 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: P.S.劳弗;F.鲁达维特 申请(专利权)人: 艾克斯特朗欧洲公司
主分类号: C23C16/458 分类号: C23C16/458;C23C16/46;C23C16/52;H01L21/67;H01L21/687;H01L21/66
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 任丽荣
地址: 德国黑*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种在CVD反应器中使用的盖板(4、5),其中,所述盖板具有在圆弧线上延伸的周向边缘,或者其中,多个相同地设计的盖板(4、5)能够以圆形布置,从而所述盖板的沿着圆弧延伸的外边缘相互补充成完整的圆。用于衬底(10)或者承载衬底(10)的衬底固持装置的安置位置位于盖板的面内。按照本发明,盖板具有朝向其两个相互背离地指向的宽侧敞开的开口(15),通过所述开口能够看到基座(2)的上侧(3),从而通过开口(15)能够进行光学的温度测量。
搜索关键词: 用于 测量 cvd 反应器 中的 基座 表面温度 装置
【主权项】:
暂无信息
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