[实用新型]一种用于LED芯片测试设备的磨针装置有效
申请号: | 201921139448.6 | 申请日: | 2019-07-19 |
公开(公告)号: | CN210335477U | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 王永胜;杨中和;周勇毅;施松刚;边迪斐 | 申请(专利权)人: | 浙江老鹰半导体技术有限公司 |
主分类号: | B24B27/033 | 分类号: | B24B27/033;G01R1/067 |
代理公司: | 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 | 代理人: | 姚宇吉 |
地址: | 311800 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种用于LED芯片测试设备的磨针装置,用以打磨LED芯片测试设备的探针,所述磨针装置包括固定架以及固定于所述固定架的磨石,所述固定架固定于LED芯片测试设备中的移动底座,移动底座移动带动所述固定架上的磨石打磨LED芯片测试设备的探针。本实用新型在现有的LED芯片测试设备上设计出打磨探针的装置,可实现设备自动打磨探针减缓针尖氧化,以提高设备利用率,减少探针损耗。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 led 芯片 测试 设备 装置 | ||
【主权项】:
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