[实用新型]一种用于LED芯片测试设备的磨针装置

说明书

本实用新型公开了一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，用以打磨LED芯片测试设备的探针，所述磨针装置包括固定架以及固定于所述固定架的磨石，所述固定架固定于LED芯片测试设备中的移动底座，移动底座移动带动所述固定架上的磨石打磨LED芯片测试设备的探针。本实用新型在现有的LED芯片测试设备上设计出打磨探针的装置，可实现设备自动打磨探针减缓针尖氧化，以提高设备利用率，减少探针损耗。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试设备领域，特别涉及一种用于LED芯片测试设备的磨针装置。

背景技术

目前的LED芯片测试设备在测试过程中，容易出现针尖氧化等问题，现有设备只能采用人工用无尘棉签手动擦拭探针表面的方式来减缓针尖的氧化现象。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型的主要目的在于提供一种用于LED芯片测试设备的磨针装置。

本实用新型的技术方案如下：一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，用以打磨LED芯片测试设备的探针，所述磨针装置包括固定架以及固定于所述固定架的磨石，所述固定架固定于LED芯片测试设备中的移动底座，移动底座移动带动所述固定架上的磨石打磨LED芯片测试设备的探针。

可选的，所述磨石设有供探针伸入并打磨的凹槽，所述凹槽的侧壁与所述探针接触，以打磨所述探针。

可选的，所述探针具有连接部和工作部，所述连接部与所述工作部具有第一夹角，所述凹槽的侧壁相对于所述凹槽的底面有第二夹角，所述第一夹角与所述第二夹角角度相同，磨石的凹槽的侧壁打磨探针的工作部。

可选的，所述磨石通过磨石底座安装于所述固定架，所述磨石底座与所述固定架固定连接，所述磨石底座设有螺纹孔，紧固螺钉通过与螺纹孔配合将所述磨石固定于所述磨石底座。

可选的，所述磨石的颗粒度为2000目至4000目。

可选的，所述磨针装置还包括清洁装置，用以清洁所述探针。

可选的，所述清洁装置包括固定于所述固定架的马达和安装于所述马达的毛刷，所述马达带动所述毛刷转动，所述毛刷清洁所述探针。

可选的，所述马达为步进马达，所述毛刷清洁探针时，所述毛刷在所述马达的带动下，先顺时针旋转，再逆时针旋转。

可选的，所述马达的转速为50转/分钟至70转/分钟。

本实用新型至少具有如下技术效果：

1、本实用新型通过自动化控制，可有效减少因为人员处理不及时而产生的LED芯片测试设备待机，从而提高设备稼动率；

2、通过磨针装置，有效解决了氧化层无法正常通过人工消除的问题，提高了探针与LED芯片测试设备的电极之间的良好接触，使LED芯片测试的测试数据更加稳定；

3、通过控制清洁装置马达的转速，从而控制毛刷与探针接触力度的大小，有效减少了因人工清洁力道不一致导致的针尖损耗。

此外，本实用新型还提供了一种LED芯片测试设备，包括上述任意一项所述的磨针装置。本实用新型所提供的LED芯片测试设备的有益效果与前述磨针装置的有益效果推理过程相同，在此不再赘述。

本实用新型的这些特点和优点将会在下面的具体实施方式以及附图中进行详细的揭露。本实用新型最佳的实施方式或手段将结合附图来详尽表现，但并非是对本实用新型技术方案的限制。另外，在每个下文和附图中出现的这些特征、要素和组件是具有多个，并且为了表示方便而标记了不同的符号或数字，但均表示相同或相似构造或功能的部件。

附图说明

图1为本实用新型实施例的整体结构示意图；

图2为本实用新型实施例中磨石底座与磨石的整体结构示意图；