[实用新型]一种用于LED芯片测试设备的磨针装置

权利要求书

1.一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，用以打磨LED芯片测试设备的探针，其特征在于，所述磨针装置包括固定架以及固定于所述固定架的磨石，所述固定架固定于LED芯片测试设备中的移动底座，移动底座移动带动所述固定架上的磨石打磨LED芯片测试设备的探针。

2.如权利要求1所述的用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述磨石设有供探针伸入并打磨的凹槽，所述凹槽的侧壁与所述探针接触，以打磨所述探针。

3.如权利要求2所述的用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述探针具有连接部和工作部，所述连接部与所述工作部具有第一夹角，所述凹槽的侧壁相对于所述凹槽的底面有第二夹角，所述第一夹角与所述第二夹角角度相同，磨石的凹槽的侧壁打磨探针的工作部。

4.如权利要求1所述的用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述磨石通过磨石底座安装于所述固定架，所述磨石底座与所述固定架固定连接，所述磨石底座设有螺纹孔，紧固螺钉通过与螺纹孔配合将所述磨石固定于所述磨石底座。

5.如权利要求1至4之一所述的用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述磨石的颗粒度为2000目至4000目。

6.如权利要求5所述的用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述磨针装置还包括清洁装置，用以清洁所述探针。

7.如权利要求6所述的用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述清洁装置包括固定于所述固定架的马达和安装于所述马达的毛刷，所述马达带动所述毛刷转动，所述毛刷清洁所述探针。

8.如权利要求7所述的用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述马达为步进马达，所述毛刷清洁探针时，所述毛刷在所述马达的带动下，先顺时针旋转，再逆时针旋转。

9.如权利要求8所述的用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述马达的转速为50转/分钟至70转/分钟。

10.一种LED芯片测试设备，其特征在于，所述LED芯片测试设备包括权利要求1至9任意一项所述的磨针装置。