[实用新型]半导体栅极电控量子点有效

专利信息
申请号: 201920622930.9 申请日: 2019-04-30
公开(公告)号: CN209896068U 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 李海欧;胡睿梓;王柯;张鑫;罗刚;郭国平 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/423
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周天宇
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种半导体栅极电控量子点,包括:衬底(101);二氧化硅层(102),其形成在衬底(101)上,二氧化硅层(102)上形成有离子注入区域(200)及量子点大电极(400),离子注入区域(200)制备有欧姆接触电极(300),二氧化硅层(102)上制备有量子点小电极(500),其中,量子点大电极(400)与量子点小电极(500)相连;绝缘层(600),其形成在二氧化硅层(102)上,只覆盖量子点区域,其中,量子点区域包括量子点小电极(500)、量子点大电极(400)的内部区域和离子注入区域(200)的内部区域。该半导体栅极电控量子点只保留量子点区域的氧化铝绝缘层,解决了传统硅半导体材料空穴型量子点中出现的本底电流问题。
搜索关键词: 量子点 二氧化硅层 离子注入区域 大电极 小电极 半导体栅极 内部区域 衬底 电控 制备 绝缘层 硅半导体材料 欧姆接触电极 氧化铝绝缘层 空穴 电流问题 保留 覆盖
【主权项】:
1.一种半导体栅极电控量子点,其特征在于,包括:/n衬底(101);/n二氧化硅层(102),其形成在所述衬底(101)上,所述二氧化硅层(102)上形成有离子注入区域(200)、量子点大电极(400),所述离子注入区域(200)制备有欧姆接触电极(300),所述二氧化硅层(102)上制备有量子点小电极(500),其中,所述量子点大电极(400)与所述量子点小电极(500)相连,所述离子注入区域(200)注入有硼,离子注入的深度为二氧化硅层(102)与衬底(101)界面处朝向衬底(101)方向1~10nm;/n绝缘层(600),其形成在所述二氧化硅层(102)上,只覆盖量子点区域,其中,所述量子点区域包括所述量子点小电极(500)、所述量子点大电极(400)的内部区域和所述离子注入区域(200)的内部区域。/n
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