[实用新型]一种芯片自动检测设备有效
| 申请号： | 201920141110.8 | 申请日： | 2019-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN209656849U | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 彭义青;冼平东;吴述林;王量;李成建 | 申请（专利权）人： | 深圳市泰克光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/01 |
| 代理公司： | 44599 深圳市深可信专利代理有限公司 | 代理人： | 丘杰昌<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片自动检测设备，包括设备支架，所述设备支架下方设置有可多轴调节位置并用于承载芯片的芯片承载机构，设备支架上方设置有用于检测芯片的芯片检测组件，设备支架的中间位置开设有芯片检测通孔，所述芯片检测通孔周围均匀分布有多组芯片探针组件。该种芯片自动检测设备具有性能稳定可靠、位置调节精度高、操作方便、提升生产效率、自动化程度高等现有技术所不具备的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 设备支架 自动检测设备 芯片检测 芯片 通孔 芯片检测组件 本实用新型 检测芯片 生产效率 位置调节 芯片承载 芯片探针 多轴 自动化 承载 | ||
【主权项】：
1.一种芯片自动检测设备，其特征在于：包括设备支架(1)，所述设备支架(1)下方设置有可多轴调节位置并用于承载芯片的芯片承载机构(2)，设备支架(1)上方设置有用于检测芯片的芯片检测组件(3)，设备支架(1)的中间位置开设有芯片检测通孔，所述芯片检测通孔周围均匀分布有多组芯片探针组件(4)。/n
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