[发明专利]一种FPGA测试质量控制优化系统有效
| 申请号： | 201911377712.4 | 申请日： | 2019-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN111190092B | 公开（公告）日： | 2022-03-22 |
| 发明（设计）人： | 顾辉;王华;高莹华;王锦;崔孝叶 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人： | 宋振宇 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国（*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种FPGA测试质量控制优化系统，在测试第一个流程中，程序中加入写和读chipid测试项，将每颗芯片的chipid写进芯片，然后程序中赋值给一个变量，ui去取回这个变量，写进数据库中，分为pass或者fail的芯片；本发明提供的FPGA测试质量控制优化系统，此项技术将芯片的chipid写入后台数据库，可以监测每个流程的数据库记录，通过算法判断，可以实时监测测试流程中是否发生异常，比如良率异常、测试参数异常、混料等异常，这样就减少了EQC程序测试的流程，提高了测试厂的量产测试效率，也节约了客户的测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 fpga 测试 质量 控制 优化 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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