[发明专利]用于混合组装的结构和包括该结构的装置的优化制造方法在审

专利信息
申请号: 201911377387.1 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN111384211A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: J·伯纳德 申请(专利权)人: 法国原子能源和替代能源委员会
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/02;H01L31/102;H01L33/00;H01L33/62
代理公司: 北京市铸成律师事务所 11313 代理人: 杨阳;林蕾
地址: 法国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种半导体结构(100)的制造方法,该半导体结构(100)旨在通过混合方式组装至第二支撑件(201)。该半导体结构(100)包括有源层(115),该有源层包括氮化的半导体。该方法包括:形成至少一个第一插入件主体和至少一个第二插入件主体(145A、145B、146A、146B)的步骤,并且在此步骤中,形成与支撑表面(101、110、111、112、113、121、131)接触的镍层(148);以及对有源层(111、112、113)进行局部物理化学刻蚀的步骤,该有源层(111、112、113)的包括有源区域(115)的部分受镍层(148)保护。
搜索关键词: 用于 混合 组装 结构 包括 装置 优化 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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