[发明专利]具有减少的边缘缺陷的铁电存储器件及其制造方法在审
申请号: | 201911293015.0 | 申请日: | 2019-12-16 |
公开(公告)号: | CN112542460A | 公开(公告)日: | 2021-03-23 |
发明(设计)人: | 胡禺石 | 申请(专利权)人: | 无锡拍字节科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/11507 | 分类号: | H01L27/11507;H01L27/11514 |
代理公司: | 上海智晟知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31313 | 代理人: | 李镝的 |
地址: | 214000 江苏省无锡市新吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了铁电存储器件和用于形成铁电存储器件的方法的实施例。在一个示例中,铁电存储单元包括第一电极、第二电极以及布置在第一电极与第二电极之间的铁电层。由第一电极和第二电极露出的边缘区被至少一个恢复层或阻挡层覆盖。 | ||
搜索关键词: | 具有 减少 边缘 缺陷 存储 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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