[发明专利]一种回收芯片检测方法有效
| 申请号： | 201911192833.1 | 申请日： | 2019-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN110988652B | 公开（公告）日： | 2021-07-02 |
| 发明（设计）人： | 史江义;张华春;吴秋纬;马佩军;孟坤;李鹏飞;郭海;赵博 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 李园园 |
| 地址： | 710000 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种回收芯片检测方法，回收芯片检测方法包括：将检测电路、载体电路置于同一环境中；确定载体电路的拟关键路径集；通过检测电路对载体电路进行动态仿真得到第一仿真结果；通过检测电路对载体电路进行老化仿真、并进行动态仿真得到第二仿真结果；根据第一仿真结果、第二仿真结果判断载体电路是否为回收芯片；响应于载体电路为回收芯片，则测量拟关键路径集的延时余量，根据延时余量确定载体电路的老化情况。本发明通过查找拟关键路径集，在检测出电路为回收芯片时，仅测量拟关键路径集的延时余量来了解电路的老化情况，保证了拟关键路径集的准确性和全面性，从而提高了回收芯片检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 回收 芯片 检测 方法 | ||
【主权项】：
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