[发明专利]一种用于深度器件深度精度测试装置及检测方法在审
| 申请号： | 201911064840.3 | 申请日： | 2019-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN110726376A | 公开（公告）日： | 2020-01-24 |
| 发明（设计）人： | 张世伟 | 申请（专利权）人： | 蔚谱光电(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/22 | 分类号： | G01B11/22 |
| 代理公司： | 33339 杭州亿创果专利代理有限公司 | 代理人： | 朱琴琴 |
| 地址： | 200131 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于深度器件深度精度测试装置及检测方法，针对现有的学术界和工业界对深度器件的深度标定及深度检测没有具体的装置及有效、统一、快速的方法的问题，提出如下方案，包括六轴平台调整组件、直线导轨、标板、反射镜、光阱，由深度器件向标板投射图案，并经反射后由深度器件的内部处理器根据采集到的结构光团计算得到深度图案作为参考图案，并将数据信息存储到处理器内部的寄存器，完成深度器件标定，通过不同相对、绝对距离，进行标定结果验证，并根据深度器件的内部算法对标定数据进行修正，此过程为深度检测。本发明结构新颖，且自动化水平及测量精度较高，满足不断增长的深度具体需求，使用简便。 | ||
| 搜索关键词： | 深度检测 标板 精度测试装置 数据信息存储 内部处理器 自动化水平 标定结果 标定数据 参考图案 绝对距离 平台调整 深度标定 投射图案 直线导轨 反射镜 寄存器 结构光 标定 处理器 光阱 六轴 算法 反射 测量 验证 采集 图案 修正 检测 统一 | ||
【主权项】：
1.一种用于深度器件深度精度测试装置，其特征在于，包括：六轴平台调整组件（1）、直线导轨（2）、标板切换控制模块（3）、标板（4）、反射镜（5）、光阱（6）、电控箱（7）、深度器件（8）、准直激光（22）、激光测距仪（21）；/n所述六轴平台调整组件（1）包括深度器件固定平台（18）、六轴调整平台（19）、六轴调整平台底座（20）、激光测距仪（21）、准直激光（22）、直线导轨（2），所述六轴调整平台底座（20）固定在直线导轨（2）上，所述激光测距仪（21）、准直激光（22）与六轴调整平台（19）均设置在六轴调整平台底座（20）上，且深度器件固定平台（18）连接在六轴调整平台（19）上；/n所述电控箱（7）的一侧固定有平面框（13），所述平面框（13）内固定有标板移动组件，标板移动组件包括：Z轴移动丝杠（11）、X轴移动丝杠（12）与X轴下支撑滑座（15），所述X轴移动丝杠（12）与X轴下支撑滑座（15）相互平行设置，且Z轴移动丝杠（11）与X轴移动丝杠（12）相互垂直设置；/n所述平面框（13）的一侧下方设置有标板切换组件，标板切换组件包括：标板箱（9）、挂钩（10）、送板丝杠（17）、电磁铁（16）与定位槽（23），所述挂钩（10）设置在标板（4）的顶部，且定位槽（23）与送板丝杠（17）相互平行设置；/n所述直线导轨（2）包括：双直线导轨、尺寸齿条（24）与地脚螺丝（25），双直线导轨相互平行设置，且尺寸齿条（24）固定在一组双直线导轨上，所述地脚螺丝（25）沿双直线导轨的长度方向设置。/n
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