[发明专利]一种光电跟踪系统中快速反射镜的标定和测量方法有效
| 申请号： | 201910972161.X | 申请日： | 2019-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN110715795B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 罗一涵;陈科;李志俊;敬子建;刘翔;梁文科;谭毅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种光电跟踪系统中快速反射镜的标定和测量方法。针对当前由快速反射镜传感器非均匀性引起的标定和测量精度不高、求解不便的问题，将快速反射镜的标定和测量用一系列基函数的加权和来建模，并通过对权值的求解和复用来实现高精度标定和测量。其有益效果在于：可以克服快反镜传感器由安装和自身特性引起的非均匀性问题，精度更高，通用性更强；并且对传感器个数要求不高，也不存在系数耦合问题，易于求解；同时标定过程简单，便于应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 跟踪 系统 快速 反射 标定 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种光电跟踪系统中快速反射镜的标定和测量方法，其特征在于，实现步骤如下：/n步骤(1)根据快速反射镜(简称“快反镜”)在光电跟踪系统中的安装位置，建立快反镜传感器与脱靶量之间映射关系的基函数集；/n步骤(2)将系统对准靶点，快反镜置于零点，再控制快反镜使靶点偏移到某一位置，记录下此时的脱靶量、方位角、俯仰角和各个快反镜传感器的值，并重复记录多个位置；/n步骤(3)如果基函数与方位角或俯仰角有关，则更换其它靶点，重复步骤(2)；/n步骤(4)用以上记录的数据求解各个基函数的权值，完成快反镜的标定；/n步骤(5)在用快反镜进行测量时，用方位角、俯仰角和各个快反镜传感器的值，按照标定的权值计算基函数的加权和，即可估计出脱靶量。/n
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