[发明专利]肖特基二极管的制备方法有效

专利信息
申请号: 201910967615.4 申请日: 2019-10-12
公开(公告)号: CN110676307B 公开(公告)日: 2022-12-20
发明(设计)人: 王元刚;冯志红;吕元杰;周幸叶;谭鑫;韩婷婷;梁士雄;卜爱民;许春良 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/872;H01L21/329
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 李坤
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及半导体领域,特别涉及一种肖特基二极管的制备方法。该方法包括:在衬底上外延第一n型氧化镓层;制备再生长掩膜层;其中,所述再生长掩膜层位于待制备的凹槽结构所对应的区域;制备再生长掩膜层后,外延第二n型氧化镓层;制备第一阳极金属层;将所述再生长掩膜层、所述再生长掩膜层上方的所述第二n型氧化镓层和所述再生长掩膜层上方的所述第一阳极金属层去除,形成凹槽结构;淀积绝缘介质层;将第一区域的绝缘介质层去除,保留第二区域的绝缘介质层,其中,所述第一区域位于所述第一阳极金属层所对应的区域范围内,所述第二区域包括所述凹槽结构所对应的区域。上述方法可以将阳极金属和凹槽完全对齐且可精准控制凹槽深度。
搜索关键词: 肖特基 二极管 制备 方法
【主权项】:
1.一种肖特基二极管的制备方法,其特征在于,包括:/n在衬底上外延第一n型氧化镓层;/n在所述第一n型氧化镓层上制备再生长掩膜层;其中,所述再生长掩膜层位于待制备的凹槽结构所对应的区域;/n制备再生长掩膜层后,外延第二n型氧化镓层;/n在所述第二n型氧化镓层上制备第一阳极金属层;/n将所述再生长掩膜层、所述再生长掩膜层上方的所述第二n型氧化镓层和所述再生长掩膜层上方的所述第一阳极金属层去除,形成凹槽结构;/n在形成凹槽结构后,淀积绝缘介质层;/n将第一区域的绝缘介质层去除,保留第二区域的绝缘介质层,其中,所述第一区域位于所述第一阳极金属层所对应的区域范围内,所述第二区域包括所述凹槽结构所对应的区域;/n制备正面第二阳极金属层和背面阴极金属层。/n
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