[发明专利]原子层沉积法形成氮化物膜的方法有效

专利信息
申请号: 201910912457.2 申请日: 2019-09-25
公开(公告)号: CN110468388B 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 康俊龙 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C23C16/455
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 201315*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种原子层沉积法形成氮化物膜的方法,包括:步骤S1:通入第一源气体至反应室中,所述第一源气体被吸附到位于所述反应室内的不同高度上的各个衬底的表面;步骤S2:除去未被吸附的所述第一源气体;步骤S3:通入第二源气体至所述反应室中,且所述第二源气体与各个所述衬底表面上吸附的第一源气体发生反应,以在各个所述衬底的表面上形成氮化物膜;在上述每一步骤中均向所述反应室中通入第三气体,且所述第三气体在步骤S1和步骤S3中的流量大于其他步骤中的流量。通过在通入第一源气体和第二源气时增加第三气体流量的方法,改变反应室上中下不同位置的反应源气体浓度,提高炉内氮化物膜的均匀性。
搜索关键词: 原子 沉积 形成 氮化物 方法
【主权项】:
1.一种原子层沉积法形成氮化物膜的方法,其特征在于,包括:/n步骤S1:通入第一源气体至反应室中,所述第一源气体被吸附到位于所述反应室内的不同高度上的各个衬底的表面;/n步骤S2:除去所述反应室中未被吸附的所述第一源气体;/n步骤S3:通入第二源气体至所述反应室中,且所述第二源气体与各个所述衬底表面上吸附的第一源气体发生反应,以在各个所述衬底的表面上形成氮化物膜;/n在上述每一步骤中均向所述反应室中通入第三气体,且所述第三气体在步骤S1和步骤S3中的流量大于其他步骤中的流量。/n
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