[发明专利]缺陷检测方法、装置及存储介质有效
| 申请号： | 201910884686.8 | 申请日： | 2019-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110599484B | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 王海洋 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/60;G06T7/73;G06V10/764;G01N21/89 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 白雪静 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提出一种缺陷检测方法、装置及存储介质，其中方法包括：获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；获取缺陷图像库；针对每个检测图像，将检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息；根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成待检测对象的缺陷检测结果，该方法通过将待检测对象的检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息，之后，根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，自动生成待检测对象的缺陷检测结果，由此，可实现缺陷的自动分类，节约了人力成本，同时减少错判漏判，提高了检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：/n获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；/n获取缺陷图像库，所述缺陷图像库包括：所述待检测对象的各个种类的缺陷图像；/n针对每个检测图像，将所述检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取所述检测图像的缺陷信息，所述缺陷信息包括：是否有缺陷，以及缺陷种类；/n根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成所述待检测对象的缺陷检测结果。/n
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