[发明专利]一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910831247.0 申请日: 2019-09-04
公开(公告)号: CN110517265B 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 孟凡武;许一尘;王立忠 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/66;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187;G06V10/77;G06K9/62
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 宋朋飞
地址: 100000 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请提供一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质,该方法包括:获取包含有待检测产品的目标图像,其中,所述待检测产品表面具有多个待检测对象;对所述目标图像进行处理,获得多张待检测图像,其中,每张待检测图像中包括待检测产品的单个待检测对象;分别计算每张待检测图像对应的d个不变矩,并根据每张待检测图像的d个不变矩与预先获得的标准产品图像对应的d个标准不变矩,对所述待检测产品进行表面缺陷检测。本申请实施例针对表面具有多个待检测对象的被加工产品能够实现快速、简便的表面缺陷检测,不需要人工逐个进行辨认,检测效率更高。
搜索关键词: 一种 产品 表面 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质
【主权项】:
1.一种产品表面缺陷的检测方法,其特征在于,所述方法包括:/n获取包含有待检测产品的目标图像,其中,所述待检测产品表面具有多个待检测对象;/n对所述目标图像进行处理,获得多张待检测图像,其中,每张待检测图像中包括待检测产品的单个待检测对象;/n分别计算每张待检测图像对应的d个不变矩,并根据每张待检测图像的d个不变矩与预先获得的标准产品图像对应的d个标准不变矩,对所述待检测产品进行表面缺陷检测,其中,d为正整数。/n
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