[发明专利]功率半导体器件及其制作工艺在审
申请号: | 201910760390.5 | 申请日: | 2019-08-16 |
公开(公告)号: | CN112397380A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 郭依腾;史波 | 申请(专利权)人: | 珠海格力电器股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28;H01L29/45 |
代理公司: | 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 | 代理人: | 韩来兵 |
地址: | 519070*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请涉及功率半导体器件技术领域,具体而言,涉及一种功率半导体器件及其制作工艺。功率半导体器件的制作工艺包括以下步骤:在衬底的正面沉积一层外延层并完成功率半导体器件正面结构的制作;对所述衬底的背面进行刻蚀,刻蚀穿整个衬底,直至外延层,形成引线孔;在所述引线孔里填充金属并在所述衬底背面垫积形成背面金属层,并退火合金,将所述外延层通过金属引线到背面金属层。本工艺不需对衬底进行减薄,而是采用引线孔技术,将背面电极引出。在不影响焊接工艺和功率半导体器件电性的基础上,取缔了减薄工艺,保留了衬底作为支撑,避免了减薄过程以及后续薄片制作工艺上造成的碎片风险,节约了成本。 | ||
搜索关键词: | 功率 半导体器件 及其 制作 工艺 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造