[发明专利]一种掩膜板缺陷的修复方法在审
申请号: | 201910747024.6 | 申请日: | 2019-08-14 |
公开(公告)号: | CN112394613A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 张健澄 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | G03F1/72 | 分类号: | G03F1/72 |
代理公司: | 上海德禾翰通律师事务所 31319 | 代理人: | 侯莉 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种掩膜板缺陷的修复方法,对掩膜板的缺陷区域进行修复填充处理之前,在缺陷区域周侧的基底上沉积光晕材料层。本发明通过在缺陷区域周侧的基底上沉积光晕材料层,能够在掩膜板的缺陷区域的周侧形成光晕以对基底形成保护,由此可以防止在聚焦离子束进行缺陷区域修复的时候在基底上形成离子层。相比于现有技术中,需要进行多次刻蚀以去除缺陷周围的离子层的方法,本申请提供的掩膜板缺陷的修复方法步骤更少,耗时更短。由于沉积了光晕材料层来保护缺陷区域周侧的基底,在进行缺陷修复的时候,可以任意设置参数,离子束修复工具的质量不会对修复质量造成太大影响,从而掩膜板修复的效果更好。 | ||
搜索关键词: | 一种 掩膜板 缺陷 修复 方法 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
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