[发明专利]硅基近红外单光子雪崩二极管探测器及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201910715409.4 申请日: 2019-08-05
公开(公告)号: CN110416335A 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 徐跃;孙飞阳 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/028;H01L31/107;H01L31/18
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 张华蒙
地址: 210046 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了硅基近红外单光子雪崩二极管探测器,属于光电探测技术领域,该单光子雪崩二极管探测器包括设置在P型衬底的上方的P型外延层,在P型衬底与P型外延层之间设置N+埋层区,在N+埋层区上对称设置深N阱区,在N+埋层区上的中心位置设置深P阱区,深P阱区与N+埋层区之间形成雪崩区。本发明的单光子雪崩二极管探测器在深P阱与N+埋层之间形成深的雪崩区,同时利用低掺杂且分布均匀的P型外延层作为虚拟保护环来提高近红外光子探测效率,缩小器件尺寸和减小暗计数噪声;本发明的制作方法可基于标准硅基工艺制作,具有低成本、高集成度、低功耗和近红外探测能力等优点。
搜索关键词: 单光子雪崩二极管 埋层 探测器 深P阱 雪崩区 衬底 硅基 近红外探测 虚拟保护环 对称设置 高集成度 工艺制作 光电探测 红外光子 探测效率 标准硅 低掺杂 低成本 低功耗 深N阱 减小 噪声 制作
【主权项】:
1.硅基近红外单光子雪崩二极管探测器,其特征在于:包括设置在P型衬底(1)的上方的P型外延层(3),在所述的P型衬底(1)与P型外延层(3)之间设置N+埋层区(2),在所述的N+埋层区(2)上对称设置深N阱区(5),在N+埋层区(2)上的中心位置设置深P阱区(4),所述的深P阱区(4)与N+埋层区(2)之间形成雪崩区。
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