[发明专利]一种GIP电容结构及制作方法有效

专利信息
申请号: 201910670982.8 申请日: 2019-07-24
公开(公告)号: CN110568644B 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 阮桑桑 申请(专利权)人: 福建华佳彩有限公司
主分类号: G02F1/1333 分类号: G02F1/1333;H01L27/12
代理公司: 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 代理人: 徐剑兵;郭鹏飞
地址: 351100 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 一种GIP电容结构及制作方法,本结构包括依次排布的基层、栅极层GE、栅极绝缘层GI、阻隔层ES、电极层SD、钝化层PV、第三电极层CM,所述第三电极层的部分穿透钝化层PV、阻隔层ES、栅极绝缘层GI,与栅极层GE连接,电极层SD与第三电极层CM不接触,电极层SD与第三电极层CM不接触。上述方案在兼容原有制程下,利用TIC结构的触控电极CM Layer与SD电极间形成第二存储电容,原有的C1与C2并联,Cox=C1+C2。可提升容值,或者有效减小电容的面积的效果,若原有7T2C GIP电路设计中,实现窄边框。
搜索关键词: 一种 gip 电容 结构 制作方法
【主权项】:
1.一种GIP电容结构,其特征在于,包括依次排布的基层、栅极层GE、栅极绝缘层GI、阻隔层ES、电极层SD、钝化层PV、第三电极层CM,所述第三电极层的部分穿透钝化层PV、阻隔层ES、栅极绝缘层GI,与栅极层GE连接,电极层SD与第三电极层CM不接触,电极层SD与第三电极层CM不接触。/n
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