[发明专利]一种基于IGBT单元的击穿检测方法有效
| 申请号： | 201910599011.9 | 申请日： | 2019-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN110244209B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 谢美珍;郑昕斌 | 申请（专利权）人： | 福州丹诺西诚电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 | 代理人： | 张明 |
| 地址： | 350000 福建省福州市鼓楼*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明涉及IGBT击穿检测技术领域，特别涉及一种基于IGBT单元的击穿检测方法，在IGBT单元的输出时长达到切换时间的时候，对当前时刻IGBT单元的输出功率进行判断，只有在IGBT单元的输出功率满足可进行击穿检测的条件时，再控制IGBT单元由当前的工作状态切换至击穿检测状态对IGBT单元进行击穿检测；本方案设计的击穿检测方法对IGBT单元的低边驱动和高边驱动的击穿情况都能检测到且无需更改IGBT单元的驱动方式，只需要通过预设的切换时间进行定时的状态切换即可检测到IGBT单元的击穿情况，算法简单，可检测的范围大。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 igbt 单元 击穿 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于IGBT单元的击穿检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、预设IGBT单元的击穿检测的切换时间；S2、判断IGBT单元的输出时长是否达到所述切换时间；S3、若IGBT单元的输出时长达到所述切换时间，则判断当前时刻IGBT单元的输出功率是否满足击穿检测条件；S4、若当前时刻IGBT单元的输出功率满足击穿检测条件，则控制IGBT单元由当前的工作状态切换至击穿检测状态；S5、当IGBT单元切换至击穿检测状态后，判断IGBT单元是否处于击穿状态；S6、若IGBT单元不是处于击穿状态，则控制IGBT单元由击穿检测状态切换至工作状态。
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