[发明专利]半导体存储器件在审

专利信息
申请号: 201910559540.6 申请日: 2019-06-26
公开(公告)号: CN110676255A 公开(公告)日: 2020-01-10
发明(设计)人: 秋成旼;权赫宇;金长燮 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L49/02;H01L21/8242
代理公司: 11105 北京市柳沈律师事务所 代理人: 翟然
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 半导体存储器件包括:下电极,每个下电极围绕内部空间;位于下电极的顶表面上的上支撑层,上支撑层位于由下电极围绕的内部空间中;在上支撑层上的上电极,上电极填充第一区域和第二区域,第二区域穿透上支撑层,并且第一区域从第二区域延伸到下电极之间。每个下电极包括:与第二区域垂直交叠的第一部分,第一部分的顶表面由上支撑层暴露;由上支撑层覆盖的第二部分,第二部分的顶表面与上支撑层接触。
搜索关键词: 上支撑层 下电极 第二区域 顶表面 第一区域 电极 半导体存储器件 交叠 填充 穿透 垂直 暴露 延伸 覆盖
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,包括:/n下电极,所述下电极中的每个下电极围绕内部空间;/n在所述下电极的顶表面上的上支撑层,所述上支撑层位于由所述下电极围绕的所述内部空间中;和/n在所述上支撑层上的上电极,所述上电极填充第一区域和第二区域,所述第二区域穿透所述上支撑层,并且所述第一区域从所述第二区域延伸到所述下电极之间,/n其中每个所述下电极包括:/n与所述第二区域垂直交叠的第一部分,所述第一部分的顶表面由所述上支撑层暴露,和/n由所述上支撑层覆盖的第二部分,所述第二部分的顶表面与所述上支撑层接触。/n
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